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SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000功能及主要參數： 適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時間參數測試。
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀設備擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補 償由于系統(tǒng)內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。
MOS管動態(tài)參數測試儀ITC57300 ITC57300是美國ITC公司設計生產的高集成度功率半導體分立器件動態(tài)參數測試設備，采用測試主機+功能測試頭+個性板的測試架構，可以滿足N溝道、P溝道器件、雙極晶體管等的各項動態(tài)參數的測試要求，且具有波形實時顯示分析功能，是目前具水平的完備可靠的動態(tài)參數測試設備。
大功率IGBT靜態(tài)參數測試儀HUSTEC-1200A-MT 華科智源IGBT電參數測試儀，可用于多種封裝形式的IGBT的測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊、大功率IGBT、大功率雙極型晶體管等器件的VI特性測試，廣泛應用于軌道交通，電動汽車，風力發(fā)電，焊機行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析。測試過程簡單，既可以在測試主機里設置參數直接測試，又可以通過軟件控制主機編程后進行自動測試。
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224 該設備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態(tài)參數測試，以表征器件的動態(tài)特性，通過特制測試夾具的連接，實現模塊的動態(tài)參數測試 品牌： 華科智源 名稱： 雙脈沖測試平臺 用途： 測試動態(tài)參數
IGBT靜態(tài)參數測試儀HUSTEC-1600A-MT華科智源功率器件測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態(tài)參數，并生產器件傳輸曲線和轉移曲線，測試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣泛應用于器件設計，封裝測試，軌道交通，電動汽車 ，風力發(fā)電，變頻器，焊機等行業(yè)的IGBT來料選型和失效分析。
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