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EM TEST DPA 503N 三相諧波閃爍分析儀DPA 503N - 全兼容三相諧波和閃爍分析儀 諧波和諧間波是由現(xiàn)代電子功率調(diào)整模塊引起的，這些用于控制負(fù)載和減小功耗的非線性模塊是供電系統(tǒng)中諧波電壓的來源。
EM TEST DPA500N 單相諧波閃爍分析儀EM TEST成立于1987年7月1日，在EMC 測試領(lǐng)域有著多年開發(fā)、生產(chǎn)、應(yīng)用以及銷售經(jīng)驗，集中他們的智慧組建了EM TEST 公司。初，他們就以革新作為努力的方向，要提供給*擁有*技術(shù)和不同于其他競爭對手的測試設(shè)備。今天，EM TEST的測試設(shè)備已經(jīng)得到了*的認(rèn)可。
EM TEST AIF 503N 三相閃爍阻抗能夠提供滿足兩種測試應(yīng)用需求的阻抗值（AIF 503N16 除外）。它既能提供符合 IEC 60725 標(biāo)準(zhǔn)閃爍測量要求和 IEC/EN 61000-3-3 標(biāo)準(zhǔn)要求的閃爍阻抗值，又能提供對額定電流大于 16A 并連接到供電電流大于 100A 的低壓供電網(wǎng)絡(luò)上的 DUT 進(jìn)行閃爍測量所需的阻抗值。
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