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  • 遠(yuǎn)方BBMS-3000反射透射空間分布測(cè)試系統(tǒng)
    遠(yuǎn)方BBMS-3000反射透射空間分布測(cè)試系統(tǒng)

    遠(yuǎn)方BBMS-3000反射透射空間分布測(cè)試系統(tǒng) BBMS-3000雙向反射透射空間分布測(cè)量系統(tǒng)可分析測(cè)量材料的反射、透射空間分布特性。可測(cè)參數(shù)包括材料的雙向透射分布(BTDF)、雙向反射分布(BRDF)、反射比分布、透射比分布、總反射(TIR)、總散射(TIS)等,系統(tǒng)可以導(dǎo)出標(biāo)準(zhǔn)文件至lighttools、Tracepro、Zemax、Speos等光學(xué)軟件中,用于輔助光學(xué)材料或系統(tǒng)的模擬、

    更新日期:2024-01-28型號(hào):訪問(wèn)量:1949
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  • 聯(lián)訊eDH3101高溫高濕老化系統(tǒng)
    聯(lián)訊eDH3101高溫高濕老化系統(tǒng)

    聯(lián)訊eDH3101高溫高濕老化系統(tǒng)是一體化高溫高濕雙85老化系統(tǒng),一個(gè)針對(duì)第三代半導(dǎo)體芯片可靠性測(cè)試的完整的雙溫高濕雙85 Turn-key解決方案。 聯(lián)訊儀器eDH3101主要適用于GaAs和GaN射頻器件和功率器件的高溫高濕試驗(yàn)。該系統(tǒng)已經(jīng)在激光器芯片行業(yè)和第三代半導(dǎo)體兩大行業(yè)通過(guò)大量認(rèn)證,是一個(gè)可靠穩(wěn)定的系統(tǒng)。

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  • 聯(lián)訊CT8201激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)
    聯(lián)訊CT8201激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)

    聯(lián)訊CT8201激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器 CT8201 激光器芯片測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)激光二極管LIV、光譜及近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)參數(shù)測(cè)試需求開(kāi)發(fā)的。

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  • 聯(lián)訊TO6201 TO高溫測(cè)試系統(tǒng)
    聯(lián)訊TO6201 TO高溫測(cè)試系統(tǒng)

    聯(lián)訊TO6201 TO高溫測(cè)試系統(tǒng)TO6201-LIV是聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試TO LIV,光譜測(cè)試機(jī)臺(tái),支持標(biāo)準(zhǔn)8x8老化夾具,主要功能和參數(shù)指標(biāo)包括: ? 支持TO的LIV掃描相關(guān)參數(shù)計(jì)算. ? 支持中心波長(zhǎng)和SMSR測(cè)試,是否跳模判斷(多電流點(diǎn)光譜測(cè)試法)

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  • 聯(lián)訊TO6200低溫測(cè)試系統(tǒng)
    聯(lián)訊TO6200低溫測(cè)試系統(tǒng)

    聯(lián)訊TO6200低溫測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試設(shè)備需要支持如下TO 產(chǎn)品的LIV 與光譜測(cè)試,詳細(xì)功能包括: - 支持TO 的LIV 掃描相關(guān)參數(shù)計(jì)算和算法選擇 - 支持中心波長(zhǎng)和SMSR 測(cè)試,是否跳模判斷(多電流點(diǎn)光譜測(cè)試法). - 支持LIV 和光譜并行測(cè)試

    更新日期:2024-01-28型號(hào):訪問(wèn)量:1321
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  • 聯(lián)訊BI4201-TO老化系統(tǒng)
    聯(lián)訊BI4201-TO老化系統(tǒng)

    聯(lián)訊BI4201-TO老化系統(tǒng)是聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試TO 標(biāo)準(zhǔn)老化系統(tǒng),主要功能和特點(diǎn)包括:。 - 雙溫區(qū),每個(gè)溫區(qū)可以獨(dú)立老化不同產(chǎn)品 - 大容量,每個(gè)溫區(qū)支持1536 顆TO 的老化,共支持3072 顆TO 的老化 - 軟件切換引腳定義,針對(duì)目前行業(yè)內(nèi)不同的引腳封裝通過(guò)軟件切換實(shí)現(xiàn) - 兼容小電流VCSEL TO 的老化和大電流FP/DFB TO 的老化

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  • 容測(cè)EA-I16汽車(chē)電源故障模擬器
    容測(cè)EA-I16汽車(chē)電源故障模擬器

    容測(cè)EA-I16汽車(chē)電源故障模擬器EA-I16 線(xiàn)束微中斷模擬器(汽車(chē)電源故障模擬器)電源線(xiàn)信號(hào)線(xiàn)二合一設(shè)計(jì),應(yīng)用于汽車(chē)線(xiàn)束微中斷測(cè)試,輸出波形,最小支持1us中斷試驗(yàn)。

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  • 容測(cè)ES-608射頻傳導(dǎo)干擾模擬測(cè)試系統(tǒng)
    容測(cè)ES-608射頻傳導(dǎo)干擾模擬測(cè)試系統(tǒng)

    容測(cè)ES-608射頻傳導(dǎo)干擾模擬測(cè)試系統(tǒng)有非常高效的注入效率,耦合去耦合網(wǎng)絡(luò)、電磁鉗、電流鉗法均支持10V測(cè)試要求,廣泛用于醫(yī)療、電力、工業(yè)控制、新能源充電樁、通訊等行業(yè)。符合IEC61000-4-6、GB/T17626.6、CISPR 35標(biāo)準(zhǔn)要求。

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